局放理論概述 在開始我們的實驗以前,我們首先應該對局部放電有個初步的了解,為什么要測量局部放電?局部放電有什么危害?怎樣準確測量局部放電?有了上述理論基礎可以幫助我們理解測量過程中的正確操作。 局部放電的定義及產生原因 在電場作用下,絕緣系統中只有部分區域發生放電,但尚未擊穿,(即在施加電壓的導體之間沒有擊穿)。這種現象稱之為局部放電。局部放電可能發生在導體邊上,也可能發生在絕緣體的表面上和內部,發生在表面的稱為表面局部放電。發生在內部的稱為內部局部放電。而對于被氣體包圍的導體附近發生的局部放電,稱之為電暈。由此 總結一下局部放電的定義,指部分的橋接導體間絕緣的一種電氣放電,局部放電產生原因主要有以下幾種: 1、 電場不均勻。 2、 電介質不均勻。 3、 制造過程的氣泡或雜質。最經常發生放電的原因是絕緣體內部或表面存在氣泡;其次是有些設備的運行過程中會發生熱脹冷縮,不同材料特別是導體與介質的膨脹系數不同,也會逐漸出現裂縫;再有一些是在運行過程中有機高分子的老化,分解出各種揮發物,在高場強的作用下,電荷不斷地由導體進入介質中, 在注入點上就會使介質氣化。 主要技術指標: 1.可測試品的電容范圍: 6PF—250uF。 2.檢測靈敏度(見表一): 表一 輸入單 元序號 | 調 諧 電 容 | 單 位 | 靈敏度(微微庫) (不對稱電路) | 1 | 6-25-100 | 皮 法 | 0.02 | 2 | 25-100-400 | 皮 法 | 0.04 | 3 | 100-400-1500 | 皮 法 | 0.06 | 4 | 400-1500-6000 | 皮 法 | 0.1 | 5 | 1500-6000-25000 | 皮 法 | 0.2 | 6 | 0.006-0.025-0.1 | 微 法 | 0.3 | 7 | 0.025-0.1-0.4 | 微 法 | 0.5 | 8 | 0.1-0.4-1.5 | 微 法 | 1.0 | 9 | 0.4-1.5-6.0 | 微 法 | 1.5 | 10 | 1.5-6.0-25 | 微 法 | 2.5 | 11 | 6.0-25-60 | 微 法 | 5.0 | 12 | 25-60-250 | 微 法 | 10 | 7R | 電 阻 |
| 0.5 |
3、放大器頻帶: (1)低端:10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。 (2)gao端:80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。 4、放大器增益調節: 粗調六檔,檔間增益20±1dB;細調范圍≥20dB。每檔之間數據為10倍關系:如第三檔檢測數據為98,則第二檔顯示數據為9.8,如在第三檔檢測數據超過120,則應調至第二檔來檢測數據,所得數據應乘以10才為實際測量值。 5、時間窗: (1)窗寬:可調范圍15°-175°; (2)窗位置:每一窗可旋轉0°- 180°; (3)兩個時間窗可分別開或同時開。 6、放電量表: 0-10*<±3%(以滿度計)。 7、橢圓時基: (1)頻率:50HZ、或外部電源同步(任意頻率) (2)橢圓旋轉:以30°為一檔,可作360°旋轉。 (3)顯示方式:橢圓—直線。 8、試驗電壓表: 精度:優于±3%(以滿度計)。 9、體積: 320×480×190(寬×深×高)mm3。 10、重量:約15Kg。 三、系統工作原理: 本機的局部放電測試原理是高頻脈沖電流測量法(ERA法)。 試品Ca在試驗電壓下產生局部放電時,放電脈沖信號經藕合電容Ca送入輸入單元,由輸入單元拾取到脈沖信號,經低噪聲前置放大器放大,濾波放大器選擇所需頻帶及主放大器放大(達到所需幅值與產生零標志脈沖)后,在示波屏的橢圓掃描基線上產生可見的放電脈沖,同時也送至脈沖峰值表顯示其峰值。 時間窗單元控制試驗電壓每一周期內脈沖峰值的工作時間,并在這段時間內將示波屏的相應顯示區加亮,用它可以排除固定相位的干擾。 試驗電壓表經電容分壓器產生試驗電壓過零標志訊號,在示波屏上顯示零標脈沖,橢圓時基上兩個零標脈沖,通過時間窗的寬窄調節可確定試驗電壓的相位,試驗電壓大小由數字電壓表指示。 整個系統的工作原理可參看方框圖(圖一)。
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